雙晶直探頭具有獨立發(fā)射和接受的晶片，在工件中產生一定聚焦長度的雙晶片換能器。主要應用于腐蝕檢測、涂層測量、剩余壁厚測量、近表面缺陷檢測、高衰減材料檢測以及鑄鍛件中裂紋、氣孔、夾雜物、孔隙度的檢測。

1. 沒有始波盲區(qū)的影響；

2. 散射小，能提高在高衰減高散射材料檢測中的信噪比；

3. 在彎曲的曲面或粗糙面中耦合效果好；

4. 兩種類型性能的探頭可滿足絕大多數(shù)檢測要求。

   (1) "PL"通用型系列: 

          用于需要高靈敏度與穿透力并對分辨率、帶寬要求不高的應用場合。

   (2) "C"壓電復合陶瓷系列:

         保證在高衰減材料的檢測中具有很高的信噪比，并將靈敏度、分辨率和穿透力**結合。