72DL plus超聲波測厚儀
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產(chǎn)品名稱: 72DL plus超聲波測厚儀
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產(chǎn)品展商: 其它品牌
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簡單介紹
72DL plus超聲波測厚儀提供標(biāo)準(zhǔn)頻率和高頻率兩種型號。高頻率型號可以測量超薄材料，包括多層漆料、塑料、金屬和涂層，其多層測量軟件可以同時顯示*多六個獨(dú)立層的厚度。所有72DL PLUS型號都具有快速、準(zhǔn)確測量厚度的功能。
數(shù)字濾波器可實(shí)現(xiàn)出色的信噪比，以準(zhǔn)確地測量噪聲材料（如玻璃纖維）
高分辨率觸摸屏易于使用，可從不同視角觀看
PC Interface Application（PC機(jī)接口應(yīng)用程序）集成了您的工作流程、檢測管理、報警和數(shù)據(jù)分析
72DL plus超聲波測厚儀
的詳細(xì)介紹
72DL plus超聲波測厚儀
提供標(biāo)準(zhǔn)頻率和高頻率兩種型號。高頻率型號可以測量超薄材料，包括多層漆料、塑料、金屬和涂層，其多層測量軟件可以同時顯示*多六個獨(dú)立層的厚度。所有72DL PLUS型號都具有快速、準(zhǔn)確測量厚度的功能。
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數(shù)字濾波器可實(shí)現(xiàn)出色的信噪比，以準(zhǔn)確地測量噪聲材料（如玻璃纖維）
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高分辨率觸摸屏易于使用，可從不同視角觀看
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PC Interface Application（PC機(jī)接口應(yīng)用程序）集成了您的工作流程、檢測管理、報警和數(shù)據(jù)分析
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堅(jiān)固耐用：設(shè)計(jì)符合IP65
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大而清晰的屏幕：177.8毫米（7英寸）高分辨率觸摸屏 WVGA顯示
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多樣化布局：A掃描、B掃描、A/B掃描、趨勢圖和放大圖等測量布局提供了厚度變化的準(zhǔn)確圖像
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可自行定制：可選擇標(biāo)準(zhǔn)頻率模式和高頻率模式 — 帶有或不帶多層測量軟件選項(xiàng)
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長時電池操作：可*多連續(xù)操作8小時
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高效的數(shù)據(jù)管理：內(nèi)部數(shù)據(jù)記錄和PC機(jī)接口應(yīng)用程序加快了數(shù)據(jù)收集和查看過程
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互聯(lián)性能：支持無線局域網(wǎng)（LAN）和藍(lán)牙
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啟用云技術(shù)：可通過無線方式連接到奧林巴斯科學(xué)云（OSC）和相兼容的OSC APP（應(yīng)用程序）
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輕松設(shè)置應(yīng)用：創(chuàng)建自定義應(yīng)用，以減少常規(guī)檢測的設(shè)備設(shè)置時間
可測量多達(dá)6層的多層涂料、漆料、塑料和其他材料的厚度
多層測量軟件提供多達(dá)6層的多層厚度測量功能。每層的測量設(shè)置，包括材料、聲速、目標(biāo)厚度范圍和報警閾值，都可以通過配置工作流程和觸摸屏控制輕松訪問。
72DL PLUS測厚儀的技術(shù)規(guī)格
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標(biāo)準(zhǔn)頻率型號
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高頻率型號
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238.76 × 172.72 × 86.36 mm
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2.08 kg
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24 V AC/DC適配器，或73 Wh鋰離子電池
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8小時
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-20°C ～ 40°C
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-10°C ～ 50°C
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177.8毫米（7英寸）WVGA（800 × 480）PCAP觸摸屏，更新率為60 Hz
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低分辨率：0.1 mm
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低分辨率：25 μm（1 mil = 0.001 in.)
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標(biāo)準(zhǔn)分辨率：2.5 μm（0.1 mil = 0.0001 in.)
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高分辨率：0.25 μm（0.01 mil = 0.00001 in.)
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鋼：0.20 mm ～ 635 mm
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塑料：0.0127 mm ～ 25.4 mm
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*多6層
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1到3層，*大2 kHz
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1到3層，*大1 kHz
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4到6層，*大500 Hz
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單點(diǎn)或兩點(diǎn)自動校準(zhǔn)；零位偏移和/或聲速的手動調(diào)整；在凍結(jié)波形上進(jìn)行的單點(diǎn)校準(zhǔn)
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A掃描、B掃描、A/B掃描、趨勢圖和放大圖
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2 GB； 約400000個厚度讀數(shù)，20000個波形
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0.2 ～ 30 MHz（-3 dB）
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20 ～ 125 MHz（-3 dB）
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自動或手動（*大100 dB）
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自動或手動（*大80 dB）
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設(shè)計(jì)符合IP65評級標(biāo)準(zhǔn)并通過測試：防塵，且可抵御來自各個方向的水射流
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通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法511.4程序I中規(guī)定的測試。
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通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法516.5程序I中規(guī)定的測試，每個軸6個循環(huán)，15 g，11 ms半弦波。
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通過了美軍標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-810F方法514.5程序I附錄C圖6中的測試，一般暴露：每軸1小時。
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