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產(chǎn)品資料

美國GE SEB 2-EN雙晶直探頭

如果您對該產(chǎn)品感興趣的話,可以
產(chǎn)品名稱: 美國GE SEB 2-EN雙晶直探頭
產(chǎn)品型號:
產(chǎn)品展商: 美國GE
會員價格: 0.00 元
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔

簡單介紹

美國GE SEB 2-EN


美國GE SEB 2-EN雙晶直探頭  的詳細介紹

美國GE SEB 2-EN雙晶直探頭

特性

獨立的聲波發(fā)射和接收單元

縱波垂直傳輸

小焦距探頭具有非常好的近場分辨率

使用耐磨的塑料延遲塊，即使在粗糙或彎曲的表面也能很好耦合性

延遲塊由一個金屬環(huán)保護以防磨損

在焦點內(nèi)特別適合剩余壁厚的測量

加上特殊的延遲塊（定制產(chǎn)品）能夠在高溫表面測量

應(yīng)用

  • 近表面的小缺陷探測和評估

  • 焦點內(nèi)大缺陷以及平行于表面分布的缺陷檢測

  • 腐蝕、銹蝕剩余壁厚的測量（包括高溫情況下測量）

  • 粘結(jié)檢測

    螺釘，螺栓，銷釘

    覆層和堆焊層

    軸，桿，方坯芯檢測

    粗晶材料

系列

型號

頻率

(MHz)

焦距

(mm)

單晶片尺寸

(mm)

外觀尺寸

帶寬

接口類型

接口方向

SEB

SEB 1

1

20

Φ21半圓

類型15

40

雙聯(lián)

Lemo 00

側(cè)裝

SEB 1-EN

1

20

SEB 2

2

15

7x18

SEB 2-EN

2

15

SEB 2-0°

2

30

SEB 2-EN-0°

2

30

SEB 4

4

12

6x20

SEB 4-EN

4

12

SEB 4-0°

4

25

SEB 4-EN-0°

4

25

MSEB

MSEB 2

2

8

Φ11半圓

類型16

40

MSEB 2-EN

2

8

MSEB 4

4

10

3.5x10

MSEB 4-EN

4

10

MSEB 4-EN-0°

4

18

MSEB 4-0°

4

18

MSEB 5

5

10

Φ9半圓

SEB KF

SEB 2 KF 5

2

6

Φ8半圓

類型17

30-60

Microdot

 X2

SEB 4 KF 8

4

6

SEB 4 KF 8-EN

4

6

SEB 5 KF 3

5

3

SEB 10 KF 3

10

3

Φ5半圓

類型18


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